El Espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método rápido, no destructivo de medición de materiales, que es ampliamente utilizado en análisis elemental y análisis químico, especialmente en la investigación y la investigación de metal y vidrio.
Un XRF típico consiste en un tubo de rayos X y un sistema de detección. El Tubo de rayos X produce una sola radiografía que excita la muestra bajo prueba. Cada elemento de una muestra excitada emite rayos X secundarios, y los rayos X secundarios emitidos por diferentes elementos tienen propiedades energéticas específicas o propiedades de longitud de onda. Utilizando el principio de fluorescencia de rayos X, es teóricamente posible medir cada elemento en la tabla periódica de los elementos.